Presse - Januar 19th, 2018

IPC APEX EXPO Messe 2018


Besuchen Sie uns auf der IPC APEX EXPO Messe in San Diego, USA, vom 27 Februar bis 1 März am Stand 3225. Auf der Messe werden wir unsere FLS98x Serie sowie BRiZ Test&Programmierungsstation ausstellen. Des Weiteren freuen wir uns, dass wir von der Messe ausgewählt wurden, ein Plakat über unsere Batterieverbindungstester-Technolgie zu präsentieren. Unser Plakat,
Presse - November 16th, 2017

EPP Magazin Interview mit Acculogic’s Geschäftsführer


Schauen Sie sich das Interview unseres Geschäftsführers Farouk Eshragi mit dem EPP Magazin auf der Productronica Show in München vom 14.11.2017 an und erfahren Sie mehr über seine Einsichten in die Entwicklungen des Marktes und erhalten Sie eine Übersicht über unsere Stärken und Ziele für die Zukunft. Sie finden das Video auch auf der EPP Magazin
Presse - November 14th, 2017

Productronica Innovation Award Winner 2017


Gewinner im Cluster „Future Markets“ Mit dem patentierten Batterieverbindunsgtester wurde ein Verfahren zum Testen der Anschlüsse von Batterien entwickelt, die in einem Batteriemodul zu mehreren mit ihren Batterieelektroden elektrisch parallel an Sammelschienen angeschlossen sind. Mit dem anstehenden deutlichen Anstieg der Nachfrage nach Batterien, zum Beispiel für Elektroautos, mobile Energiespeicher, Solarstrom und energieeffiziente Häuser, bereiten wir
Blog, Presse - September 14th, 2017

Flying Probe Infographic – Ein Überblick


Erhalten Sie einen schnellen Überblick über die Vorteile des Flying probe Testers mit unserer Infographic:
Blog, Presse - September 11th, 2017

Productronica Nov 14-17


Besuchen Sie Acculogic auf der Productronica Messe Vom 14. bis 17. November finden Sie uns auf der Productronica München in Halle 1, Stand 465. Ausgestellt werden die FLS980 Serie III, die Scorpion BRiZ Test & Programmierstation sowie eine Reihe an Boundary Scan Test Tools. Neben der Ausstellung von Systemen bietet Acculogic dieses Jahr erstmals einen
Presse - April 4th, 2017

Artikel US Tech – Batterieverbindungstests


Lesen Sie den Artikel aus der US Tech März 2017 Ausgabe über unseren Flying Prober, sowie die neue Möglichkeit der Batterieverbindungstests. Sie können den Artikel auch hier lesen.
Presse - Februar 14th, 2017

Was ist die Adaptive Clocking Technolgie™


Die Adaptive Clocking Technologie beseitigt Instabilitäten, die üblicherweise aufgrund von Pfadverzögerungen im Boundary Scan (JTAG) Betrieb bei hohen Taktraten (TCK) auftreten. Dieses urheberrechtlich geschützte und patentierte Design gleicht die Pfadverzögerungen aus, wodurch die JPCI Steuerung mit der maximalen TCK-Rate, die von allen Zielgeräten unterstützt wird, arbeiten kann. Adaptive Clocking beseitigt die Effekte der Pfadverzögerung, wodurch sich die
Blog, Firmeninfo - Januar 18th, 2017

Acculogic Inc. – 25 Jahre Innovation & Exzellenz


2017 feiert unsere Muttergesellschaft Acculogic Inc. in Kanada Ihr 25-jähriges Bestehen. Um die steigenden Heraus- und Anforderungen zu bewältigen und erfolgreich zu sein, wenden sich seit Jahren Unternehmen an uns. Sie profitieren von unserer erstklassigen Engineering-Kapazität, unseren vielseitigen Ressourcen und vollausgestatteten Produktionsanlagen. Mit unseren Anlagen in den USA, Deutschland und China, sowie Vertriebs- und Supportzentren
Flying Probe, Presse - Dezember 8th, 2016

All Electronics Artikelveröffentlichung


Auf All Electronics wurde ein Artikel zu unseren Flying Prober veröffentlicht. Ein Augenmerk liegt insbesondere auf unsere neue Entwicklung im Bereich der Batterieverbindungstester für Verbindungen von Batterien, die in Elektrofahrzeugen oder zur Speicherung von Solarenergie eingesetzt werden Zum Artikel
Flying Probe - Oktober 1st, 2014

Produktionsprüfung anhand des Flying Probe Systems


1. Überblick Seit Mitte der 90er Jahre werden bewegliche Testnadel In-Circuit Testsysteme weitgehend für elektronische Strukturtests von Prototypen und für die neue Produkteinführung von bestückten Leiterplatten (Printed Circuit Board Assemblies PCBAs) verwendet. Für eine schnellere und umfangreichere Produktionsprüfung fiel die Wahl für die Produktionsprüfung auf Leiterplatten bisher auf In-Circuit Test (ICT) Systeme und Manufacturing Defect
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