Sprint 4510

Sprint Flying Prober

Sprint 4510 ist die vierte Generation der Flying Probe Prüfgeräte. Es wurden neue Fähigkeiten und Funktionen hinzugefügt, um die zukünftigen Test- und Qualitätsicherungsherausforderungen in der Elektronikindustrie zu bewältigen.

FORTGESCHRITTENE MASCHINENARCHITEKTUR

Bessere Fehlerabdeckung und verschleißfreier Einsatz

- Flächenlineare Motorsysteme mit Bewegungsfreiheit in X und Y Richtung
- Ein genauestens gesteuertes Luftlager trennt die Motoren von den Trägerplatten
- Lineare Planarmotoren benötigen keine Rückkopplung und arbeiten präzise
- Alle Testnadeln haben den gleichen geografischen Zugriff auf die Platine

BOUNDARY SCAN

Erhöhter Durchsatz, erhöhte Testabdeckung und effizientere Kurzschlusstests

- Interconnect Test, digitaler und analoger Clustertest, Speichertest
- Flash und In-system Geräteprogrammierung
- Intelligente grafische Diagnosen
- Boundary Scan Infrastruktur Test

ERWEITERTER FUNKTIONSTEST 

Integrieren Sie extern handelsübliche Geräte

- Gerätetreiber basierend auf auswechselbaren virtuellen Geräteprotokollen (IVI)
- Unterstützung für PCI, PXI, GPIB und USB2.0 programmierbare Geräte
- Serienmäßige Unterstützung für bis zu 4 externe Netzteile, nach Wunsch erweiterbar
- IVI Treiber und technische Beratung für vom Nutzer gewählte Geräte

KURZE
PROGRAMMENTWICKLUNGSZEIT

Verkürzung der Programmierungszyklen und Erhöhung der Programmierungsgeschwindigkeit

- Einfach zu benutzende, intuitive grafische Benutzeroberfläche und automatische Programmentwicklungssoftware
- Vollständig integrierte CAD Übersetzungssoftware
- Manuelle Testprogrammentwicklung, wenn CAD Dateien oder Gerber Daten nicht zur Verfügung stehen
- Automatische Programmerstellung und minimale Fehlerbehebung

INTUITIVE SOFTWAREUMGEBUNG 

Automatisierte, einfache, intuitive Testprogrammerstellung

- Automatisierte Programmerstellungssoftware
- Test Debug Programm
- Testabdeckungberichte
- Produktionstestsoftware

ERKENNUNG OFFENER PINS

Schnelle Programmierung und umfassende Fehlerabdeckung des Herstellungsprozesses

- Werkzeugsatz für eine power-off „vektorlose“ Erkennung von offenen Pins auf Digital- und Mischsignalgeräten
- D-Scan and C-Scan vektorlose Tests
- Fehlerabdeckung auf allen ICs, einschließlich BGAs und ICs mit Kühlkörper, sowie Stecker und polarisierte Kondensatoren

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