Keysight (Agilent) und Teradyne

Dienstleistungen

  • Design for Testability (DFT)
  • CAD Übersetzung
  • Bibliothek Modellentwicklung
  • Standardtestprogramm
  • Fortgeschrittene Testprogramme
  • Kombinatorische In-Circuit und Funktionstestentwicklung
  • Vor Ort Installation und Betreuung (an einem Großteil der globalen Standorte)

Standard Programmentwicklung

Die Standard Programme sind kostengünstig und bieten einen schnellen Umschwung. Diese Dienstleistung ist geeignet für Kunden mit Standardtechnologien oder begrenzter Zeit und begrenztem Budget. Die Standardprogramme können bei Bedarf zu einem späteren Zeitpunkt auf ein fortgeschrittenes Niveau aktualisiert werden.

Keysight (Agilent) 3070, Teradyne SPECTRUM, Teradyne Z18xx

  • CAD Übersetzung, um Platinen und Platinen XY Dateien zu erstellen
  • Kurzschlüsse und offene Verbindungstests
  • Analoger getrennter Bauteil Test>
  • Standardmäßiger digitaler Bibliotheks Test
  • Programmerstellung
  • Adapter Entwurf, Herstellung und Debug
  • Fehlerabdeckungsbericht (Gerät, Pin und Testtyp)
  • Programm und Adapter Dokumentation
  • Einrichten von Bibliotheken für Geräte, die sich nicht in der
    Standard Bibliothek befinden
  • Einrichten von TestJet und Polaritätscheck (soweit verfügbar)
  • Einrichten von Netzknotenbibliotheken für zukünftige
    analoge Funktionstests

Teradyne (GenRad) 228x/TS8X

  • CAD Übersetzung, um CKT und Adapter Dateien zu erstellen
  • Kurzschlüsse und offene Verbindungstests
  • Analoger getrennter Bauteil Test
  • Standardmäßiger digitaler Bibliotheks Test
  • Programmerstellung
  • Adapter Entwurf, Herstellung und Debug
  • Fehlerabdeckungsbericht (Gerät, Pin und Testtyp)
  • Programm und Adapter Dokumentation
  • Junction Xpress und Opens Xpress Test für Geräte, die sich
    nicht in der Bibliothek befinden

Fortgeschrittene Programmentwicklung

Die fortgeschrittenen Programme wurden für komplexe Platinen und für Kunden, die die höchstmögliche Fehlerabdeckung bei der ICT Phase benötigen, entwickelt. Die fortgeschrittenen Programme beinhalten Schritte, die im Standardprogramm aufgelistet sind sowie gegebenenfalls folgende Schritte:

Keysight (Agilent) 3070

  • Erweiterter Boundary Scan
  • Digitale Clustertests
  • Einstufiger Funktionstest
  • Magic test reduced access
  • Silikonmessnadel Testentwicklung
  • FLASH, ISP und EEPROM Programmierung

Teradyne SPECTRUM

  • Erweiterter Boundary Scan
  • Digitale Clustertests
  • Testvektor- und Greycode Entwicklung
  • LED Farb- und Intensitätscheck
  • Einstufiger ICT & Funktionstest
  • DeltaScan und FrameScan
  • ILDP Schablonenentwicklung

Teradyne Z18xx

  • Erweiterter Boundary Scan
  • Digitale Clustertests
  • Testvektor- und Greycode Entwicklung
  • LED Farb- und Intensitätscheck
  • Einstufiger ICT & Funktionstest
  • DeltaScan und FrameScan
  • DFP Schablonenentwicklung

Teradyne (GenRad) 228x/TS8X

  • Erweiterter Boundary Scan
  • Digitale Clustertests
  • Testvektorentwicklung
  • LED Farb- und Intensitätscheck
  • Geräteprogrammierung
  • Einstufiger ICT & Funktionstest
  • Junction Xpress und Opens Xpress Tests

Prüfadapter Design und Herstellung

Ein wesentlicher Teil der Platinenprüfung ist der Prüfadapter. Innovationen in der PCBKeysight und Teradyne In-Circuit Testadapter-Technologie können sich als Herausforderungen im Prüfadapterentwurf erweisen. Unter Nutzung einer kreativen Gestaltungsphilosophie liefern wir konsequent modernste Lösungen für die kompliziertesten Testschnittstellenprobleme. Mit einer Kombination aus ausgebildeten Ingenieuren und Technikern und einer strengen Qualitätskontrolle, widmet wir uns der Bereitstellung der besten Prüfadapter, einer rechtzeitigen Lieferung und der zuverlässigsten Dienstleistung und Betreuung in der Industrie.

  • Ein breites Spektrum an Adapter in verschiedenen Größen, Modellen und Konfigurationen
  • Dual-Well, doppelseitiger Zugriff und Multi-Phasen Adapter
  • Benutzerdefiniertes Prüfadapterdesign für einzigartige Anwendungen
  • Prüfadapter Netzteile und Übersetzer
  • Prüfadapter für automatisierte Platinentransportsysteme (ABH)
  • Alle Oberflächen ESD behandelt (Testnadelplatte und beide Seiten der oberen Platte) für einen widerstandsfähigen Bereich von 10E5 bis 10E10
  • ZeroFlexTM drahtlose Adapter
  • Platinenlose Adapterherstellung